F1SYH‑TX1 — lot 39

Tests du firmware F1SYH‑TX1

Automatiser les tests unitaires, les simulations de défauts et la recette sur matériel.

unitaireslogique

HILmatériel

fault injectionsécurité

rapportversionné

Tests unitaires→Mocks→Build→Flash→HIL→Rapport

Point critique : Les tests unitaires ne remplacent pas la mesure des délais et niveaux électriques réels.

Architecture et détails

Tests unitaires :
- plan de bande
- calcul fréquence LO/BFO
- parser CAT
- CRC/configuration
- machine d’états avec horloge simulée
- keyer CW

Tests HIL :
- relais par LED/charge
- ADC avec tensions connues
- Si5351 mesuré
- défauts forcés
- watchdog
- perte USB pendant TX.

CI locale

Compiler avec warnings élevés.

Tester sur chaque commit.

Injection

Forcer capteurs hors limites.

Débrancher I²C.

Traçabilité

Rapport lié à la version firmware.

Conserver les logs série.

Spécifications

Build	warnings traités
Unitaires	automatiques
HIL	banc réel
Couverture	fonctions critiques
Sortie	rapport signé

Repères

Un test critique doit échouer avant le correctif

Rejouer la recette après changement de machine d’états

Procédure

Créer le framework.

Écrire les mocks.

Tester le parser.

Tester la machine radio.

Tester config/CRC.

Créer le banc HIL.

Injecter les défauts.

Publier le rapport.

Validation : les résultats sont consignés avant de poursuivre.